¾Le test dans le flow de conception ¾et objectifs des tests et diagnosticsButs ¾Différents tests ªTest fonctionnel ªTest de caractérisation ªTest structurel ¾Économie des tests ¾Couverture des fautes
¾Cest quoi la simulation de fautes ? ¾Simulation logique ¾Différentes méthodes de simulation de fautes ªSimulation parallèle ªSimulation déductive ªSimulation concurrente ¾Analyse statique des fautes
¾Méthode de générations des vecteurs de tests ªActivation ou sensibilisation des fautes ªPropagation ¾Algorithmes de génération ªAlgorithme D ªAlgorithme PODEM ªAlgorithme FAN ¾Complexité des algorithmes de génération
)Chap. 6 : Chemin de test « Scan-Path » pour les circuits séquentielles
E6306
¾Caractéristiques des circuits séquentielles ¾Conception en vue du test : chemin de test « Scan-Path » ªScan partiel ªScan complet ¾Avantages et inconvénients du chemin de test
)Génération aléatoire des vecteurs de testChap. 9 :
6306
¾Avantages et inconvénients de la génération aléatoire ¾Génération des tests exhaustifs ¾Propriétés des vecteurs de tests aléatoires ¾Calculs des probabilités des signaux ¾Algorithmes de compactage des vecteurs de test